SEM da tavolo SNE ALPHA

Microscopio elettronico a scansione da banco

Interfaccia user friendly e SEM da banco Smart

Nuovo prodotto per il 2023, lo SNE-Alpha migliorala nostra gamma esistente di SEM da tavolo offrendo una maggior comodità di utilizzo e una risoluzione migliorata e ultra nitida.

Gli aggiornamenti del software rendono l’analisi semplice ed estremamente accurata.
Nuove funzionalità, come l’analisi delle dimensioni delle particelle e il rendering 3D, ampliano la gamma di potenziali applicazioni
Velocità di vuoto più elevate consentono di condurre analisi rapide dei campioni con le migliori prestazioni in qualsiasi momento.
Con una riduzione del 40% delle dimensioni fisiche, SNE Alpha è il nostro SEM da tavolo più conveniente per gli utenti con spazio di lavoro limitato.

Polyme r powder s 20,000 x 15kV

CN T 150,000 x 30kV

Hardware ad alte prestazioni
Risoluzione di 5 nanometri

Sperimenta la risoluzione a 5 nm: ingrandimento 250.000 volte, superiore al miglior SEM da banco della categoria
Il controllo preciso dell’obiettivo/lente consente un’acquisizione ottimale dell’immagine senza danneggiare i campioni

Risparmia tempo nella preparazione del campione

Design compatto

Occupa meno spazio grazie al design compatto e ben strutturato

Dimensioni ridotte del 40% rispetto ai modelli precedenti
Con la sua configurazione più efficiente in termini di spazio, SNE Alpha può essere facilmente installato nei laboratori più piccoli.
300(W)x465(D)x600(H)

Sistema motorizzato a 5 assi

Il posizionamento del campione più rapido e accurato è più facile che mai grazie al sistema motorizzato a cinque assi con una precisione di circa 5 um.

Navi cam

A five axis motorized system

90 degree

45 degree

90 degree

SOFTWARE INTELLIGENTE

Un nuovo Nano Eye di terza generazione

Acquisisci immagini con facilità con una nuova e migliorata IU.
Con una regolazione ottimale, i risultati possono essere visualizzati il 60% più velocemente rispetto al software precedente.

Uno schermo più grande e un’interfaccia più intuitiva

Funzione di Stitchin

Scansioni di aree più grandi sono necessarie per analizzare campioni estesi
Permette di selezionare un’area più grande del campione che in precedenza non poteva essere immortalata in un’unica immagine SEM.
La funzione di scansione di un’ampia area consente sia l’acquisizione automatica di immagini da più posizioni all’interno di aree specificate sia l’analisi di aree estese e la ricerca ad alta risoluzione.

Funzioni automatiche migliorate

La nuova Auto-Gun-Align permette all’utente di acquisire immagini con facilità.
L’Auto Focus migliorato consente agli utenti di individuare e catturare con precisione le immagini desiderate.

senza autofocus

Rendering 3D

Ispezionae analizza la rugosità superficiale dei campioni con facilità e comodità con le nostre nuove funzioni di rendering 3D..
OpzionaleElettroni secondari retrodiffusi(BSE)

ACCESSORI OPZIONALI

EDS
Un dispositivo EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) è montato su un SEM per analizzare gli elemntidella superficie del campione. Consente l’analisi qualitativa/quantitativa rilevando i raggi X caratteristici generati quando gli elettroni emessi da un microscopio elettronico entrano in collisione con i campioni. L’opzione EDS compatta, costruita in un design salvaspazio e su misura per SNE Alpha, offre le stesse prestazioni e gli stessi programmi di analisi di un EDS standard.

Caratteristiche:

Detectors di tipo SDD
La risoluzione energetica superiore consente l’analisi su elementi leggeri
Risultati affidabili suanalisi quantitative wt%,at%
IU veloce, facile da controllare e comoda
Funzioni principali:analisi qualitativa/quantitativa,mappinglinescans,report,etc.

Ion SputterCoater

Un ion sputterCoater uno strumento di pretrattamento per la preparazione del campione che applica una sottile strato di metallo (Au/Pt) per rendere conduttivo un campione. L’aumento della conduttività consente agli utenti di ottenere immagini. È necessario per l’analisi di campioni non conduttivi.
Rivestimento in Oro o Platino